用事实说话：走出硬盘寿命的认识误区

一般来说，这一时间能达到上百万小时，不过卡内基梅隆大学的研究人员在旧金山的第五届USENIX Conference大会上指出，对经过对大约10万块硬盘进行研究后的结论是：硬盘产品的实际失效几率是MTTF指标的15 倍之多。

卡内基梅隆大学学者Bianca Schroeder与Garth Gibson撰文指出：如果按照MTTF为100-150万小时计算，那么即使在最坏的情况下，硬盘每年的失效率不过0.88％，但在研究了各种大型生产系统、互联网服务网站等地的硬盘后发现，实际数字一般都会超过1％，通常在2-4％左右，在某些极端情况下甚至高达13％ 以上，甚至24％。 研究表明，人们有时太过相信硬盘厂商提供的数据，却不知硬盘的实际工作环境对其“平均无故障时间”有着极大的影响。

另外，目前在企业级的存储解决方案中，人们普遍倾向于SCSI硬盘与FC硬盘。SCSI硬盘的特点是接口速度快，硬盘转速快，缓存容量大，CPU占用率低，扩展性远优于IDE硬盘，并且支持热插拔。由于其性能好、稳定性高，在服务器上得到广泛应用。同时其价格也极其昂贵。

FC硬盘名称由于通过光学物理通道进行工作，因此起名为光纤硬盘，关于光纤硬盘以其的优越的性能、稳定的传输，也在企业存储高端应用中担当重要角色。从数据手册上看，这两种硬盘的性能都比普通的SATA硬盘更加可靠，是高端企业级用户的良好选择。但是事实却并非如此。研究还发现，更快、更贵的光纤通道硬盘并不一定就比普通SATA硬盘更可靠。

另外，大概50％之多的返修硬盘实际上都没有任何问题，分析人士和硬盘厂商也有类似观点。

研究人员之一GarthGibson指出，他们这份报告的目的不仅是敦促硬盘厂商改进产品设计，更希望他们能同时改善产品测试。他还表示，他们并非要区分各家硬盘厂商的质量高低，也不是追踪硬盘的实际故障率，而是给用户一个参考，让大家明白硬盘可能会在什么时候出现问题。

大会上的另一项报告则提出，Google的研究人员对SMART进行了深入研究，SMART的全称为“Self-Monitoring，Analysis and Rep orting Technology”，即“自我监测、分析及报告技术”。支持SMART技术的硬盘可以通过硬盘上的监测指令和主机上的监测软件对磁头、盘片、马达、电路的运行情况、0历史记录及预设的安全值进行分析、比较。当出现安全值范围以外的情况时，就会自动向用户发出警告。研究表明，支持SMART技术的硬盘向用户发出警告后，硬盘在两个月内发生故障的机率比未报错硬盘高39倍。同时指出，温度因素对硬盘可靠性的影响看起来微乎其微。

(责任编辑：buyi) []